В статье представлен комплексный обзор современных методов исследования популярности музыкальных произведений, включая статистические, временные и нейросетевые подходы. Рассматриваются регрессионные модели с фиксированными эффектами, модели выживания, нестационарные пуассоновские процессы и системы уравнений Лотки-Вольтерры, а также алгоритмы STL-декомпозиции и нейронные сети (LSTM-RPA). Обсуждаются их преимущества и ограничения в анализе динамики прослушиваний, влияния плейлистов и конкурентного взаимодействия жанров. Основное внимание уделено анализу их преимуществ и недостатков в контексте поставленных задач - прогнозирования долгосрочных изменений в популярности композиций, оценки влияния плейлистов и динамики конкуренции жанров. На основании проведённого анализа автор приходит к выводу, что для прогнозирования наиболее эффективно применение моделей LSTM-RPA благодаря их способности минимизировать накопление ошибок. Авторский вклад заключается в предложении нового подхода: адаптации гибридной методики, объединяющей нейросетевые модели и временные ряды, для учёта контекстуальных факторов, таких как влияние социальных трендов и маркетинговой активности, что позволяет существенно повысить универсальность и точность прогнозов.
В книге рассмотрены междисциплинарные аспекты диагностики процессов
дефектообразования и накопления повреждений по регистрируемым сигналам
сопутствующей акустической эмиссии. Предложен новый подход, состоящий в
использовании кинетической концепции прочности, пуассоновской модели про-
цесса дефектообразования и обнаруженных экспериментально физико-механиче-
ских особенностей явления акустической эмиссии (включая устойчивые в силу
ряда предельных теорем статистические параметры случайного процесса акусти-
ческой эмиссии). Практическое использование полученных результатов показано
на примерах диагностики прочности Царь-колокола в Московском Кремле, эле-
ментов теплозащиты первого отечественного орбитального космического само-
лета «Буран», ряда других изделий и объектов ответственного назначения.
Для специалистов в области физики, механики, химии, неразрушающего
контроля, технической диагностики, а также аспирантов и студентов соответ-
ствующих специальностей