Книга: Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики

Скачать

Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике.

Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 «Электроника и микроэлектроника», магистерским образовательным программам «Нанотехнология и диагностика», «Нано- и микросистемная техника» и 210600 «Нанотехнология». Также может служить для повышения квалификацииЬпреподавателей и научных работников.