Книга: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.

Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
330 страниц
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем
Просмотров
9

Предпросмотр документа

Информация о книге

ISBN
5948360180
Издательство
Техносфера
Год публикации
2004
Автор(ы)
Д. Брандон, У. Каплан
Каталог SCI
Нанотехнология