Книга: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 330 страниц
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
- Просмотров
- 9
Предпросмотр документа
Информация о книге
- ISBN
- 5948360180
- Издательство
- Техносфера
- Год публикации
- 2004
- Каталог SCI
- Нанотехнология