В последние годы активно развиваются исследование наноразмерных объектов, представляющий собой группу атомов или супрамолекулярную структуру, для которых понятие диэлектрической проницаемости имеет весьма условный смысл и, как правило, требует уточнения, а иногда и отдельного анализа. В настоящей работе проанализировано изменение интенсивности комбинационного рассеяния объектов, помещенных на плоскую подложку, и показаны некоторые ситуации, в которых рассеяние может изменяться более чем на порядок. В частности, на идеальной металлической подложке область пучности стоячей световой волны, образованной при отражении, не распространяется на приповерхностный слой, в котором находится слой графена, за счет чего рамановское (комбинационное) рассеяние может уменьшиться более чем на порядок. В случае прозрачных подложек рассматриваемый наноразмерный эффект может значительно проявиться при помещении рассеивателя в экспоненциально затухающую неоднородную волну в области полного внутреннего отражения, либо при использовании продольной по отношению к плоскости падения поляризации при зондировании волной, падающей на подложку под углом Брюстера.
In recent years, the study of nanoscale objects, which is a group of atoms or a supramolecular structure, for which the concept of dielectric permittivity has a very conventional meaning, is actively developing and, as a rule, requires a refinement and sometimes a separate analysis. In this paper, we analyze the change in the intensity of Raman scattering of objects placed on a flat substrate and show some situations in which the scattering can vary by more than an order of magnitude. In particular, on an ideal metal substrate, the antinode region of a standing light wave formed upon reflection does not extend to the near-surface layer in which the graphene layer is located, whereby the Raman scattering can decrease by more than an order of magnitude. In the case of transparent substrates, the nano-size effect under consideration can be significantly manifested when the scatterer is placed in an exponentially decaying inhomogeneous wave in the region of total internal reflection, or by using a longitudinal polarization with respect to the plane of incidence when probing with a wave incident on the substrate at the Brewster angle.
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 29256693
В результате анализа вышеприведенных данных приходим к следующему заключению.
1. Усиление интенсивности комбинационного рассеяния на графене, расположенном на металлической подложке с тонким слоем диэлектрика, теоретически составляет порядка 6–20 раз (практически 8–12 раз) в видимом диапазоне.
2. Усиление интенсивности комбинационного рассеяния нанообъекта, расположенного на прозрачной подложке, достигается также за счет исключения падающей волны с помощью призмы и подавления отраженного света, если падающая волна с продольной поляризацией направлена на подложку под углом Брюстера.
Список литературы
1. Стенхольм C. Основы лазерной спектроскопии. - М.: Мир, 1987.
2. Борен К., Хафмен Д. Поглощение и рассеяние света малыми частицами. - М.: Мир, 1986.
3. Che G., Lakshmi B. B., Martin C. R., et al. // Chem. Mater. 1998. Vol. 10. P. 260.
4. Ismach A., Druzgalski C., Penwell S., et al. // Nano Lett. 2010. Vol. 10. P. 1542.
5. Fleischman M., Hendra P. J., McQuillan A. J. // Chem. Phys. Lett. 1974. Vol. 26. P. 163. EDN: XXGNWX
6. Aroca R. Surface-enhanced vibrational spectroscopy. - J. Wiley&Sons. 2006.
7. Гинзбург В. Л., Мотулевич Г. П. // УФН. 1955. Т. 55 (4). С. 469.
8. Физический энциклопедический словарь / Под ред. А. М. Прохорова. - М.: Сов. энциклопедия, 1983. C. 409.
9. Сивухин Д. В. Общий курс физики. Т. 4. - М.: Физматлит, 2002.
1. S. Stenholm, Foundations of Laser Spectroscopy (Wiley, New York, 1984; Мoscow, Mir, 1987).
2. C. F. Bohren and D. R. Huffman, Absorption and Scattering of Light by Small Particles (Wiley, New York, 1998; Мoscow, Mir, 1986).
3. G. Che, B. B. Lakshmi, C. R. Martin, et al., Chem. Mater. 10, 260 (1998).
4. A. Ismach, C. Druzgalski, S. Penwell, et al., Nano Lett. 10, 1542 (2010).
5. M. Fleischman, P. J. Hendra, and A. J. McQuillan, Chem.Phys.Lett. 26, 163 (1974).
6. R. Aroca, Surface-Enhanced Vibrational Spectroscopy (J. Wiley&Sons. 2006).
7. V. L. Ginzburg and G. P. Motulevich, Phys. Usp. (Sov. UFN) 55 (4), 469 (1955).
8. Physical Encyclopedic Dictionary, Ed. A. M. Prohorov (Sov. Entsiklopediya, Moscow, 1983) [in Russian].
9. D. V. Sivukhin, General Course of Physics. Vol. 4. (Fizmatlit, Moscow, 2002) [in Russian].
Выпуск
С О Д Е Р Ж А Н И Е
ОБЩАЯ ФИЗИКА
Расмагин С. И., Апресян Л. А., Крыштоб В. И. О специфике измерений параметров слаборассеивающих нанообъектов на плоских подложках 5
ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
Ернылева С. Е., Булейко А. Б., Ульянов Д. К., Лоза О. Т. Плазменный релятивистский СВЧ-генератор с инверсной конфигурацией 9
Шарафутдинов Р. Г., Константинов В. О., Федосеев В. И., Щукин В. Г. Конверсия природного и попутного нефтяного газов в холодной электронно-пучковой плазме 13
Гушенец В. И., Бугаев А. С., Окс Е. М. Особенности функционирования разрядной системы вакуумной дуги с катодом из чистого бора в импульсном режиме 19
ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
Никонов А. В., Яковлева Н. И., Давлетшин Р. В., Егоров А. В. Исследование методик фильтрации спектральных характеристик чувствительности матричных фотоприемных устройств 25
Астахов В. П., Гиндин П. Д., Карпов В. В., Кузьмина К. А., Леготин С. А., Чеканова Г. В. Влияние толщины контактного слоя алюминия на шумовые параметры планарных кремниевых фотодиодов 31
Роках А. Г., Шишкин М. И. Рекомбинационные стоки в гетерофазных пленках CdS-PbS 37
Белоковаленко Р. К., Банников М. В. Расчет теплопритоков в узлах матричных фотоэлектронных модулей ИК-диапазона спектра 41
Боровкова А. Ю., Гришина Т. Н., Матюхина Е. С. Прецизионное травление тонких легированных слоев кремния 47
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Коноваленко С. П., Бедная Т. А. Влияние условий синтеза на физические свойства тонких пленок кобальтсодержащего полиакрилонитрила 50
Кушкина К. Д., Назаров А. В., Шемухин А. А., Евсеев А. П. Влияние ионного облучения на проводимость пленок кремния 54
Мадатов Р. С., Нуриев И. Р., Наджафов А. И., Исмаилов Ш. С., Мамишова Р. М. Tеплопроводность пленок Pb0.96Mn0.04Se 58
Бархалов Б. Ш., Тагиев М. М., Багиева Г. З., Алиев Р. Ю., Абдинова Г. Д., Алиева Т. Д., Ахундова Н. М., Магеррамова К. И. Термоэлектрические свойства экструдированных образцов твердого раствора Bi2Te2,7Se0,3 с различными размерами зерен 62
Муслимов А. Э., Буташин А. В., Смирнов И. С., Новоселова Е. Г., Исмаилов А. М., Бабаев В. А., Вовк Е. А., Каневский В. М. Ориентационные изменения в кристаллических пленках ZnO на темплейтах AlN/-Al2O3 в результате термического воздействия 67
ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
Драничников А. Н., Краснов А. А., Семенов А. М. Исследования нераспыляемых геттеров для применения в инжекторах атомов водорода для установок термоядерного синтеза 73
Власова К. В., Андреев Н. Ф., Макаров А. И. Короткоимпульсная фототермическая однолучевая интерферометрия для измерения поглощения в прозрачных изотропных диэлектриках 79
Носов П. А. Термооптический анализ формирующих систем мощных волоконных лазеров 87
Садовникова Я. Э., Кондратенко В. С. Оптимизация волоконного Er-Tm-лазера 92
Кондратенко В. С., Мелкумян М. Т. Управление глубиной микротрещины при резке материалов методом лазерного термораскалывания 95
Зюзько А. В., Могорычный В. И. Гидравлическое сопротивление засыпки из свинцовых шариков при высоких скоростях газовых потоков 100
ПЕРСОНАЛИИ
Юбилей В. П. Пономаренко 106
ИНФОРМАЦИЯ
Правила для авторов 107
Подписка на электронную версию журнала 110
C O N T E N T S
GENERAL PHYSICS
S. I. Rasmagin, L. A. Apresjan, and V. I. Kryshtob Specifics of measurements of the parameters for weakly scattering nanoobjects on flat substrates 5
PLASMA PHYSICS AND PLASMA METHODS
S. E. Ernyleva, A. B. Buleyko, D. K. Ulianov, and O. T. Loza The plasma relativistic microwave oscillator with an inverse configuration 9
R. G. Sharafutdinov, V. O. Konstantinov, V. I. Fedoseev, and V. G. Shchukin Conversion of the natural and associated petroleum gas in a cold electron-beam plasma 13
V. I. Gushenets, A. S. Bugaev, and E. M. Oks Specific features of a pulsed vacuum arc with a boron cathode 19
PHOTOELECTRONICS
A. V. Nikonov, N. I. Iakovleva, R. V. Davletshin, and A. V. Egorov Different smoothing methods for a spectral response of the FPA photodiodes 25
V. P. Astakhov, P. D. Gindin, V. V. Karpov, K. A. Kuzmina, S. A. Legotin, and G. V. Chekanova Effect of the aluminum contact layer thickness on planar silicon photodiodes noise parameters 31
A. G. Rokakh and M. I. Shishkin Recombination drains in the heterophase CdS-PbS films 37
R. K. Belokovalenko and M. V. Bannikov Calculation of a heat leakage at the nodes of matrix photoelectric modules for the infrared spectrum 41
A. Yu. Borovkova, T. N. Grischina, and E. S. Matyuhina Precision etching the thin doped silicon layers 47
MATERIALS SCIENCE
S. P. Konovalenko and T. A. Bednaya Influence of the synthesis conditions on the physical properties of the cobalt-containing PAN thin films 50
K. D. Kushkina, A. V. Nazarov, A. A. Shemukhin, and A. P. Evseev The influence of ion irradiation on the conductivity of silicon films 54
R. S. Madatov, I. R. Nuriyev, A. I. Najafov, Sh. S. Ismailov, and R. M. Mamishova Thermal conductivity of the Pb0.96Mn0.04Se films 58
B. Sh. Barkhalov, M. M. Tagiyev, G. Z. Bagiyeva, R. Yu. Aliyev, G. D. Abdinova, T. D. Aliyeva, N. M. Akhundova, and K. I. Mag-erramova Thermoelectric properties of extruded samples of the Bi2Te2.7Se0.3 solid solution with different grain sizes 62
A. E. Muslimov, A. V. Butashin, I. S. Smirnov, E. G. Novoselova, A. M. Ismailov, V. A. Babaev, E. A. Vovk, and V. M. Kanevsky Orientation changes in the crystal films of ZnO on AlN/-Al2O3 templates as a result of the thermal influence 67
PHYSICAL APPARATUS AND ITS ELEMENTS
A. N. Dranichnikov, A. A. Krasnov, and A. M. Semenov Research of NEG for application in injectors of hydrogen atoms for installations of thermonuclear synthesisnull 73
K. V. Vlasova, N. F. Andreev, and A. I. Makarov Short-pulse photothermal common-path interferometry for absorption measurement in transparent isotropic dielectrics 79
P. A. Nosov Thermooptical analysis of forming systems of high-power fiber lasers 87
Ya. E. Sadovnikova and V. S. Kondratenko Optimization of the Er-Tm fiber laser 92
V. S. Kondratenko and M. T. Melkumyan Controlling of a microcrack depth during cutting of materials using the laser thermal crack-ing method 95
A. V. Zyuzko and V. I. Mogorychny A hydraulic resistance of the filling of lead balls at high gas flow velocities 100
PERSONALIA
Anniversary Date of V. P. Ponomarenko 106
INFORMATION
Rules for authors 107
Subscription to an electronic version of the journal 110
Другие статьи выпуска
Исследована теплопроводность поликристаллических тонких пленок Pb0.96Mn0.04Se в области температур 77–320 К. Установлено, что рассеяние фононов на границах кристаллитов и поверхности пленки являются незначительным, что следует из факта отсутствия зависимости решеточной теплопроводности от толщины и размеров кристаллитов c d = 3,0÷5,0 мкм. В исследуемых образцах рассеяние фононов в основном происходит на дефектах, связанных с несовершенством структуры пленок и атомов примеси.
В работе проводилось облучение плёнок кремния ионами кремния с энергией 200–230 кэВ в температурном диапазоне от температуры жидкого азота до комнатной. Показано, что с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света можно проводить интегральный анализ качества кристалличности структуры после облучения, что значительно сокращает время исследования. Изучено влияние ионного облучения на проводимость пленки кремния.
Методами атомно-силовой и интерференционной микроскопии изучена поверхность пленок кобальтсодержащего полиакрилонитрила, полученных под воздействием некогерентного ИКизлучения при неглубоком вакууме. Определены толщины пленок кобальтсодержащего полиакрилонитрила и параметры самоорганизации полученных пленок. Показано, что, изменяя технологические параметры формирования пленок, можно получить материалы с различными электрофизическими свойствами. Рассмотрев пленки с позиций теории самоорганизации, установлено, что полученные структуры упорядочены. Выяснено, что с увеличением концентрации легирующей добавки наблюдается рост шероховатости и снижение средней взаимной информации, что существенно изменяет электрофизические свойства пленок.
Проведен выбор состава травителя для прецизионного удаления тонкого высоколегированного геттерирующего слоя кремния. Наиболее контролируемый процесс удаления обеспечивает травитель состава HNO3: HF: CH3COOH = 40:1:1. Он позволяет при полном стравливании геттерирующего слоя сохранить требуемую толщину контактного слоя, предотвращающего выход области объемного заряда рп-перехода на тыльную поверхность базы фоточувствительного элемента, обеспечивая тем самым снижение величины темновых токов и увеличение процента выхода годных изделий.
Впервые проведен анализ и расчет теплопритоков в узлах матричного фотоэлектронного модуля (ФЭМ) с помощью программного комплекса Autodesk CFD. При помощи программного обеспечения Autodesk Inventor была создана трехмерная модель прибора, на основе которой в дальнейшем построена модель распределения тепла внутри матричного фотоэлектронного модуля. Исходя из полученных данных, проанализирована конструкция ФЭМ с точки зрения распределения и отвода тепла. Из результатов расчета сделано заключение об эффективности работы ТЭО и его вкладе в паразитное излучение.
Спектр фотопроводимости сублимированных пленок квазимонополярных полупроводников CdS-PbS, в частности CdS(0,9)-PbS(0,1), не обнаруживает отрицательных участков (гашения) фотопроводимости, характерных для монокристаллов и пленок сульфида кадмия. Такое отсутствие связано с наличием дополнительного канала рекомбинации, обусловленного стоком фотоносителей в узкозонную фазу, содержащую PbS, поскольку длина монополярной диффузии превышает расстояние между «стоками» (вкраплениями) узкозонной фазы, а также толщину пленки, поскольку стоки расположены в основном на её поверхности.
В работе рассмотрены пути снижения уровней шумовых тока и напряжения планарных кремниевых фотодиодов, работающих в фотовольтаическом режиме. Экспериментально получены и обсуждаются зависимости шумовых параметров таких фотодиодов от толщины слоя Al контактной системы. Показана возможность улучшения шумовых свойств фотодиодов за счёт увеличения толщины слоя выше критического значения, определяемого глубиной контактного окна.
Исследованы алгоритмы неразрушающей обработки спектральных характеристик чувствительности линейных и матричных фотоприемных устройств (методы взвешенного и экспоненциального скользящего среднего, интерполяция сплайнами, фильтрация методом СавицкогоГолея). Показаны результаты анализа применения алгоритмов фильтрации для спектральных характеристик чувствительности на примере образцов пятиэлементного фотоприемного устройства, предназначенного для бортового ИК Фурье-спектрометра космического аппарата «Метеор-М», и матричного фотоприемного устройства формата 4576 элементов, имеющего диапазон чувствительности 3,7–4,1 мкм. Анализ результатов показал преимущество фильтрации Савицкого-Голея над стандартными методиками в силу своей вариативности.
Проведены экспериментальные исследования импульсного вакуумного дугового разряда с катодом из чистого бора. Поскольку в нормальных условиях бор имеет высокое удельное сопротивление (1,8×106 Ом см), инициирование дугового разряда требует нагрева катода до температур выше 600÷650 С, при которых бор приобретает заметную проводимость. Представлены результаты, касающиеся зажигания дугового разряда с катодом из бора и обеспечения стабильности его горения, а также результаты измерения параметров разряда, оптического эмиссионного спектра и масс-зарядового состава дуговой плазмы. Практически на 100 % плазма, сформированная разрядом, состоит из одно- и двухзарядных ионов бора, в соотношении 1:1.
Разработано устройство для создания холодной неравновесной электронно-пучковой плазмы в сверхзвуковом потоке газа. Представлено описание и демонстрация возможностей способа конверсии природного и модельного попутного нефтяного газов с использованием этой плазмы для получения продуктов различного химического состава. На лабораторном оборудовании получены продукты различного химического состава в вариантах окислительной и бескислородной конверсии природного газа. Предложенный метод является перспективным для промышленной реализации.
Впервые создан широкополосный плазменный релятивистский СВЧ-генератор на основе гладкого волновода, в котором электронный поток осаждается на стенки волновода, а плазменный волновод располагался внутри этого потока. Такая конфигурация позволяет легко охлаждать систему, что важно для частотно-периодического режима работы. В используемых ранее плазменных мазерах электронный поток распространялся внутри плазменного волновода и осаждался на внутренние детали конструкции. В результате они перегревались, появлялись дополнительные молекулы газа и плазма. При коротких импульсах и в режиме генерации однократных импульсов последствия перегрева существенно не влияли на работу системы. В случае же частотно-периодического режима это делает невозможной нормальную работу генератора. В традиционных плазменных мазерах отвод тепла является трудоемкой задачей, существенно усложняющей конструкцию и приводящей к снижению эффективности генерации. Целью настоящей работы было проверить работоспособность плазменного мазера, в котором электронный поток распространяется снаружи от плазмы и осаждается на стенки волновода. В работе продемонстрирована возможность электронной перестройки частоты излучения от импульса к импульсу в диапазоне 3–9 ГГц при мощности 20 МВт. Тем самым доказана возможность построения плазменного мазера с широкой перестройкой частоты излучения в периодическом режиме следования импульсов с большой частотой повторения. Данная работа является началом исследования возможности построения высокоэффективного широкополосного генератора, который сможет работать в частотном режиме длительное время.
Издательство
- Издательство
- АО "НПО "ОРИОН"
- Регион
- Россия, Москва
- Почтовый адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- Юр. адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- ФИО
- Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
- E-mail адрес
- orion@orion-ir.ru
- Контактный телефон
- +7 (499) 3749400