ISSN 2307-4469 · EISSN 2949-5636

· Языки: ru / en

Статья: Пиннинг магнитного потока и линия необратимости кристаллов YBa2Cu3O7-x с внедренными нейтральными примесями (2019)

Читать

Читать онлайн

Для монодоменных кристаллов YBa2Cu3O7-x, изготовленных методом Top Seeded Melt, допированных для увеличения пиннинга вихрей нейтральными добавками, были измерены температурно-полевые зависимости первой гармоники комплексной магнитной восприимчивости. Рассматривался особый случай, когда внешнее магнитное поле равно полю полного проникновения. Для интерпретации эксперимента использованы модель Кима-Андерсона и концепция коллективного крипа в вихревом стекле. В рамках модели Кима-Андерсона были определены основные параметры: критическая плотность тока Jc(0), потенциал пиннинга U0(0), индукция линии необратимости B0(0) при нулевой температуре и их температурные зависимости. Установлены основные экспериментальные особенности линии необратимости с точки зрения пиннинга вихрей. Полученные данные позволили изучить влияние центров пиннинга на динамику вихрей в YBa2Cu3O7-x с внедренными нейтральными примесями.

Temperature-field dependences of the first harmonic of complex magnetic susceptibility were measured for YBa2Cu3O7-x monodomain crystals produced by Top Seeded Melt and doped to increase vortex pinning by neutral additives. A special case was reviewed when the external magnetic field is equal to the full penetration field. To interpret the experiment, we used the Kim-Anderson model and the concept of a collective creep in a vortex glass. In the framework of the Kim-Anderson model the main parameters were determined: the critical current density Jc(0), the pinning potential U0(0), the irreversibility line induction B0(0) at zero temperature and their temperature dependences. The main experimental features of the irreversibility line from the point of view of pinning vortices are fixed. The obtained data allowed to study the influence of pinning centers on the dynamics of vortices in YBa2Cu3O7-x crystals with embedded neutral impurities.

Ключевые фразы: диамагнитный отклик, критическая плотность тока, пиннинг вихрей, крип потока, линия необратимости

Автор (ы): Славкин Владимир Владимирович, Журин Сергей Александрович

Журнал: УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI: Физика
УДК: 538.945. Сверхпроводимость
eLIBRARY ID: 41264552

Для цитирования:

СЛАВКИН В. В., ЖУРИН С. А. ПИННИНГ МАГНИТНОГО ПОТОКА И ЛИНИЯ НЕОБРАТИМОСТИ КРИСТАЛЛОВ YBA2CU3O7-X С ВНЕДРЕННЫМИ НЕЙТРАЛЬНЫМИ ПРИМЕСЯМИ // УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ. 2019. ТОМ 7, №5

Текстовый фрагмент статьи

Список литературы

1. Yamaguchi Y., Aoki N., Iga F., Nishihava Y. // Physica C. 1995. Vol. 246. P. 216.
2. Majer D., Zeldov E., Konczykowski // Phys. Rev. Lett. 1995. Vol. 75. P. 1166.
3. When Haui-hu, Zhao Zhong-Xian // Phys. Rev. B. 1994. Vol. 50. P. 13853.
4. Polichetti M., Adesso M. G., Matteo T. Di., Vecchione A., Pace S. // Physica C. 2000. Vol. 332. P. 378.
5. Мелихов Е. З. // СФХТ. 1989. Т. 2. С. 5.
6. Dubois S., Carmona F., Flandrois S. // Physica C. 1996. Vol. 260. P. 19.
7. Anderson P. W. // Phys. Rev. Lett. 1962. Vol. 9. P. 309.
8. Anderson P. W., Kim Y. B. // Rev. Mod. Phys. 1964. Vol. 36. P. 39.
9. Feigel’man M. V., Geshkenbein V. B., Larkin A. I. // Physica C. 1996. Vol. 167. P. 177.
10. Houghton A., Pelcovits R. A., Sudbo A. // Phys. Rev. B. 1989. Vol. 40. P. 6763.
11. Wu W. D., Keren A., Le L. P., Sternlieb B. J., Luke G. N., Uemura Y. J., Dosanjh P., Riseman T. M. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 47. P. 8172.
12. D’Anna G., Andre M. O., Indenbom M. V., Benoit W. // Physica C. 1994. Vol. 230. P. 115.
13. Fuchs D. T., Zeldov E., Tamegai T., Ooi S., Rappaport M., Shtrikman H. // Phys. Rev. Lett. 1998. Vol. 80. P. 4971.
14. Mints R. G., Snapiro I. B. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 47. P. 3273.
15. Burlachkov L., Koshelev A. E., Vinokur V. M. // Phys. Rev. B. 1996. Vol. 54. P. 6750.
16. Вашакидзе Ю. М., Шапошникова Т. С., Таланов Ю. И. // ФНТ. 2004. T. 30. C. 596 [Low Temp. Phys. 2004. Vol. 35. P. 596].
17. Polichetti M., Adesso M. G., Pace S. // Physica A. 2004. Vol. 339. P. 119.
18. Schindler K., Ziese M., Esguinazi P. // Physica C. 2005. Vol. 417. P. 141.
19. Kes P. H., Aarts J., van den Berg J., van der Beek C. J., Mydosh J. A. // Supercond. Sci. Technol. 1989. Vol. 1. P. 242.
20. Beasley M. R., Labusch R., Webb W. W. // Phys. Rev. 1969. Vol. 181. P. 682.
21. Жуков А. А., Мощалков В. В. // СФХТ. 1991. T. 4. C. 850.
22. Бондаренко С. И., Коверя В. П., Кревсун А. В., Линк С. И. // ФНК. 2017. T. 43. C. 1411 [Low Temp. Phys. 2017. Vol. 43. P. 1411].
23. Головашкин А. И. // Краткие сообщения по физике. 1991.
24. Finkel’ V. A., Arzhavitin V. M., Blinkin A. A., Derevyanko V. V., Razdovskii Yu. Yu. // Physica C. 1994. Vol. 235–240. P. 303.
25. Shi Yunhua, Hasan Tawfique, Babu Nadendla H., Torrisi Felice, Milana Silvia, Ferrari Andrea C., Cardwell David A. // American Chemical Society. 2012. Vol. 6. P. 5395.
26. Cardwell David A. / 2014 Mater. 27th International Superconductivity Symposium. Tokyo.
27. Nizhelskiy N. A., Poluschenko O. L., Matveev V. A. // Supercond. Sci. Technol. 2007. Vol. 20. P. 81.
28. Славкин В. В., Тищенко Э. А. // ЖТФ. 2012. T. 82. C. 117.
29. Славкин В. В., Тищенко Э. А. // Прикладная физика. 2012. № 5. C. 103.
30. Головашкин А. И., Кузьмичев Н. Д., Левченко И. С., Славкин В. В. // ФТТ. 1990. T. 32. C. 1374.
31. Loegel B., Bolmont D., Dalderop H., Mehdaoui A. // Solid State Commun. 1991. Vol. 78. P. 621.
32. Loegel B., Mehdaoui A., Bolmont D., Danesi P., Bourgault D., Tournier R. // Physica C. 1993. Vol. 210. P. 432.
33. Lee C. Y., Kao Y. H. // Physica C. 1995. Vol. 241. P. 167.
34. Yamamoto K., Mazaki H., Yasuoka H. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 47. P. 915.
35. de Almeida L., Thouless D. J. // J. Phys. A: Math. Gen. 1978. Vol. 11. P. 983.
36. Сиренко В. А., Еременко В. В. // ФНК. 2014. T. 40. C. 1099 [Low Temp. Phys. 2014. Vol. 40. P. 1099].
37. Banerjee S. S., Grover A. K., Higgins M. J., Menon Gutam I., Mishra P. K., Pal D., Ramakrishnan S., Chandrasekhar Rao T. V., Ravikumar G., Sahni V. C.,
Sarkar S., Tomy C. V. // Physica C. 2001. Vol. 355. P. 39.
38. Yasuoka H., Tochihara S., Mashino M., Mazaki H. // Physica C. 1998. Vol. 305. P. 125.
39. Сысоев М. А., Полушенко О. Л. // Инженерный вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. 2014. T. 1. C. 508.
40. Blatter G., Feigel’man M. V., Geshkenbein V. B., Larkin A. I., Vinokur V. M. // Rev. Mod. Phys. 1994. Vol. 66. P. 1125.
41. Polichetti M., Adesso M. G., Matteo T. Di, Vecchione A., Pace S. // Physica C. 2000. Vol. 332. P. 378.
42. Chen D. X., Nogues J., Rao K. V. // Cryogenies. 1989. Vol. 29. P. 800.
43. Nikolo M., Goldfarb R. B. // Phys. Rev. B. 1989. Vol. 39. P. 6615.
44. Hardy V., Provost J., Groult D., Hervieu M., Raveau B., Durcok S., Pollert E., Frison J. C., Chaminade J. P., Pouchard M. // Physica C. 1992. Vol. 191. P. 85.
45. Sagdahl L. T., Laegreid T., Fossheim K., Murakami M., Fujimoto H., Gotoh S., Yamaguchi K., Yamauchi H., Koshizuka N., Tanaka S. // Physica C. 1991. Vol. 172. P. 495.

1. Y. Yamaguchi, N. Aoki, F. Iga, and Y. Nishihava, Physica C. 246, 216 (1995).
2. D. Majer, E. Zeldov, and Konczykowski, Phys. Rev. Lett. 75, 1166 (1995).
3. When Haui-hu and Zhao Zhong-Xian, Phys. Rev. B. 50, 13853 (1994).
4. M. Polichetti, M. G. Adesso, T. Di. Matteo, A. Vecchione, and S. Pace, Physica C. 332, 378 (2000).
5. E. Z. Melikhov, SFKhT 2, 5 (1989).
6. S. Dubois, F. Carmona, and S. Flandrois, Physica C. 260, 19 (1996).
7. P. W. Anderson, Phys. Rev. Lett. 9, 309 (1962).
8. P. W. Anderson and Y. B. Kim, Rev. Mod. Phys. 36, 39 (1964).
9. M. V. Feigel’man, V. B. Geshkenbein, and A. I. Larkin, Physica C. 167, 177 (1996).
10. A. Houghton, R. A. Pelcovits, and A. Sudbo, Phys. Rev. B. 40, 6763 (1989).
11. W. D. Wu, A. Keren, L. P. Le, B. J. Sternlieb, G. N. Luke, Y. J. Uemura, P. Dosanjh, and T. M. Riseman, Phys. Rev. B. 47, 8172 (1993).
12. G. D’Anna, M. O. Andre, M. V. Indenbom, and W. Benoit, Physica C. 230, 115 (1994).
13. D. T. Fuchs, E. Zeldov, T. Tamegai, S. Ooi, M. Rappaport, and H. Shtrikman, Phys. Rev. Lett. 80, 4971 (1998).
14. R. G. Mints and I. B. Snapiro, Phys. Rev. B. 47, 3273 (1993).
15. L. Burlachkov, A. E. Koshelev, and V. M. Vinokur, Phys. Rev. B. 54, 6750 (1996).
16. Yu. M. Vashakidze, T. S. Shaposhnikiva, and Yu. I. Talanov, Low Temp. Phys. 35, 596 (2004).
17. M. Polichetti, M. G. Adesso, and S. Pace, Physica A. 339, 119 (2004).
18. K. Schindler, M. Ziese, and P. Esguinazi, Physica C. 417, 141 (2005).
19. P. H. Kes, J. Aarts, J. van den Berg, C. J. van der Beek, J. A. and Mydosh, Supercond. Sci. Technol. 1, 242 (1989).
20. M. R. Beasley, R. Labusch, and W. W. Webb, Phys. Rev. 181, 682 (1969).
21. A. A. Zhukov and V. V. Moshalkov, SFKhT 4, 850 (1991).
22. S. I. Bondarenko, V. P. Koverya, А. В. Krevsun, and S. I. Link, LowTemp. Phys. 43, 1411 (2017).
23. A. I. Golovashkin, Bull. Lebedev Phys. Inst., (1991).
24. V. A. Finkel’, V. M. Arzhavitin, A. A. Blinkin, V. V. Derevyanko, and Yu. Yu. Razdovskii, Physica C. 235–240, 303 (1994).
25. Yunhua Shi, Tawfique Hasan, H. BabuNadendla, Felice Torrisi, Silvia Milana, Andrea C. Ferrari, and David A. Cardwell, American Chemical Society. 6, 5395 (2012).
26. David A. Cardwell, 2014 Mater. 27th International Superconductivity Symposium. Tokyo.
27. N. A. Nizhelskiy, O. L. Poluschenko, and V. A. Matveev, Supercond. Sci. Technol. 20, 81 (2007).
28. V. V. Slavkin and E. A. Tishchenko, Tech. Phys. 82, 117 (2012).
29. V. V. Slavkin and E. A. Tishchenko, Prikl. Fiz., No. 5, 103 (2012).
30. A. I. Golovashkin, N. D. Kuzmichev, I. S. Levchenko, and V. V. Slavkin, Sov. Phys. Solid. State 32, 1374 (1990).
31. B. Loegel, D. Bolmont, H. Dalderop, and A. Mehdaoui, Solid State Commun. 78, 621 (1991).
32. B. Loegel, A. Mehdaoui, D. Bolmont, P. Danesi, D. Bourgault, and R. Tournier, Physica C. 210, 432 (1993).
33. C. Y. Lee and Y. H. Kao, Physica C. 241, 167 (1995).
34. K. Yamamoto, H. Mazaki, and H. Yasuoka, Phys. Rev. B. 47, 915 (1993).
35. L. de Almeida and D. J. Thouless, J. Phys. A: Math. Gen. 11, 983 (1978).
36. V. A. Sirenko and V. V. Eremenko, Low Temp. Phys. 40, 1099 (2014).
37. S. S. Banerjee, A. K. Grover, M. J. Higgins, Gutam I. Menon, P. K. Mishra, D. Pal, S. Ramakrishnan, T. V. Chandrasekhar Rao, G. Ravikumar, V. C. Sahni, S. Sarkar, and C. V. Tomy, Physica C. 355, 39 (2001).
38. H. Yasuoka, S. Tochihara, M. Mashino, and H. Mazaki, Physica C. 305, 125 (1998).
39. M. A. Sysoev and O. L. Polushenko, Inzh. Vestnik MGTU 1, 508 (2014).
40. G. Blatter, M. V. Feigel’man, V. B. Geshkenbein, A. I. Larkin, and V. M. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).
41. M. Polichetti, M. G. Adesso, T. Di. Matteo, A. Vecchione, and S. Pace, Physica C. 332, 378 (2000).
42. D. X. Chen, J. Nogues, and K. V. Rao, Cryogenies. 29, 800 (1989).
43. M. Nikolo and R. B. Goldfarb, Phys. Rev. B. 39, 6615 (1989).
44. V. Hardy, J. Provost, D. Groult, M. Hervieu, B. Raveau, S. Durcok, E. Pollert, J. C. Frison, J. P. Chaminade, and M. Pouchard, Physica C. 191, 85 (1992).
45. L. T. Sagdahl, T. Laegreid, K. Fossheim, M. Murakami, H. Fujimoto, S. Gotoh, K. Yamaguchi, H. Yamauchi, N. Koshizuka, and S. Tanaka, Physica C. 172, 495 (1991).

Выпуск

Том 7, №5 (2019)

Кол-во страниц: 96 страниц

С О Д Е Р Ж А Н И Е

ОБЩАЯ ФИЗИКА
Славкин В. В., Журин С. А. Пиннинг магнитного потока и линия необратимости кристаллов YBa2Cu3O7-x с внедренными нейтральными примесями 439

ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ

Давыдов С. Г., Долгов А. Н., Карпов М. А., Корнеев А. В., Никишин Д. В., Пшеничный А. А., Якубов Р. Х. Пространственная структура и динамика импульсного дугового разряда в вакууме 454
Тажен А. Б., Райымханов Ж. Р., Досболаев М. К., Рамазанов Т. С. Получение и диагностика импульсных плазменных потоков 463

ФОТОЭЛЕКТРОНИКА

Арич О. Д., Климанов Е. А., Гончаров В. Е., Можаева М. О., Малыгин В. А. Исследование дефектов матричных фотоприемных устройств методами электронной микроскопии 472

ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Гавриш С. В., Логинов В. В., Пугачев Д. Ю., Пучнина С. В. Вакуумноплотные спаи сапфира с металлами (обзор) 480
Валянский С. И., Кононов В. М., Кононов М. А. Шероховатость, пористость и показатель преломления тонких плёнок AgI 502

ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ

Андосов А. И., Полесский А. В., Романова Т. Н., Юдовская А. Д., Тришенков М. А. Методика измерения пятна рассеяния объектива с использованием матричного фотоприемного устройства 508
Молчанов C. Ю., Ушаков Н. М., Литвиненко А. Н. Измерение диэлектрической проницаемости композитных наноматериалов с использованием микрополоскового встречно-штыревого резонатора в сантиметровом диапазоне радиоволн 519

ИНФОРМАЦИЯ

IX научно-практическая конференция молодых ученых и специалистов «Фотосенсорика: новые материалы, технологии, приборы, производство» 525
XLVII Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу 526

C O N T E N T S

GENERAL PHYSICS

V. V. Skavkin and S. A. Zhurin Magnetic flux pinning and irreversibility line of YBa2Cu3O7-x crystals with embedded neutral impurities 439

PLASMA PHYSICS AND PLASMA METHODS

S. G. Davydov, A. N. Dolgov, M. A. Karpov, A. V. Korneev, D. V. Nikishin, A. A. Pshenichniy, and R. Kh. Yakubov Spatial structure and dynamics of a pulsed arc discharge in vacuum 454
A. B. Tazhen, Zh. R. Rayimkhanov, M. K. Dosbolayev, and T. S. Ramazanov Generation and diagnostics of pulse plasma flows 463

PHOTOELECTRONICS

O. D. Arich, E. A. Klimanov, V. E. Goncharov, M. O. Mozhaeva, and V. A. Malygin Investigation of defects in FPAs by means of scanning electron microscopy 472

PHYSICAL SCIENCE OF MATERIALS

S. V. Gavrish, V. V. Loginov, D. Y. Pugachev, and S. V. Puchnina Vacuum-tight brazing of sapphire with metals (a review) 480
S. I. Valjanskii, V. M. Kononov, and M. A. Kononov Roughness, porosity and refraction index of AgI thin films 502

PHYSICAL EQUIPMENT AND ITS ELEMENTS

A. I. Andosov, A. V. Polesskiy, T. N. Romanova, A. D. Yudovskaya, and M. A. Trishenkov Method of measuring the scattering spot of the lens using a matrix photodetector 508
S. Yu. Molchanov, N. M. Ushakov, and A. N. Litvinenko Assessment of permittivity of composite nanomaterials using a microstrip interdigital resonator in the super high frequency range 519

INFORMATION

IX Theoretical and Practical Conference of Young Scientists and Specialists “Photosen-sorics: New Materials, Technologies, Devices, and Production” 525
XLVII International Zvenigorod Conference on Plasma Physics and Controlled Thermo-nuclear Fusion 526

Другие статьи выпуска

Измерение диэлектрической проницаемости композитных наноматериалов с использованием микрополоскового встречно-штыревого резонатора в сантиметровом диапазоне радиоволн (2019)

Авторы: Молчанов Сергей Юрьевич, Ушаков Николай Михайлович, Литвиненко Артём Николаевич

Проведено математическое моделирование конструкции микрополосковой линии со встречно-штыревым резонатором в сантиметровом диапазоне радиоволн. Выбраны её оптимальные параметры для установки резонанса в коротковолновой области СВЧ-диапазона. Описано поведение данной встречно-штыревой структуры, нагруженной толстопленочными образцами материалов с диэлектрической проницаемостью от 0,1 до 10. Рассмотрено применение встречно-штыревой структуры для определения диэлектрической проницаемости композитных наноматериалов в СВЧ-диапазоне. Изготовлены макеты данной структуры и проведены измерения действительной части диэлектрической проницаемости полимерных композитных наноматериалов на основе матриц из полиэтилена низкой плотности и полиметилметакрилата.

Сохранить в закладках

Методика измерения пятна рассеяния объектива с использованием матричного фотоприемного устройства (2019)

Авторы: Андосов Артем Игоревич, Полесский Алексей Викторович, Романова Татьяна Николаевна, Юдовская Александра Дмитриевна, Тришенков Михаил Алексеевич

В статье приведены результаты экспериментального подтверждения методики измерения функции рассеяния точки и пятен рассеяния объективов с помощью матричного фотоприемного устройства. В ходе работы был поставлен экспери-мент и проведено его математическое моделирование. Требуемый динамический диапазон системы достигнут путем обработки массива кадров с различным време-нем накопления. Для проведения эксперимента было разработано специализиро-ванное программное обеспечение (ПО). Сравнение результатов, полученных с по-мощью математической модели и экспериментальных данных, подтверждает разработанные ранее требования к методике измерения пятен рассеяния с помо-щью матричного фотоприемного устройства.

Сохранить в закладках

Шероховатость, пористость и показатель преломления тонких плёнок AgI (2019)

Авторы: Валянский Сергей Иванович, Кононов Владимир Михайлович, Кононов Михаил Анатольевич

Плотность пленочных покрытий соединений галогенидов серебра определяется структурой получаемых пленок, которая зависит от их толщины и условий формирования. Пористость и, как следствие, шероховатость пленок галогенидов серебра определяется структурой самого материала AgI при иодизации серебра, нанесенного на гладкую поверхность. Пространственные параметры для пленок различной толщины определялись и рассчитывались с помощью атомно-силовой микроскопии. Получены и исследованы спектры пропускания, которые использовались для оценки распределения пор в исследуемых образцах и сравнивались с данными, полученными с помощью атомно-силовой микроскопии.

Сохранить в закладках

Вакуумноплотные спаи сапфира с металлами (обзор) (2019)

Авторы: Гавриш Сергей Викторович, Логинов Владимир Владимирович, Пугачев Дмитрий Юрьевич, Пучнина Светлана Викторовна

Статья посвящена рассмотрению особенностей получения вакуумноплотных спаев сапфира с металлами. Выявлено влияние на механическую прочность профилированного сапфира количества блоков и угла разориентации их границ, обоснована температурная зависимость предельного напряжения разрушения труб, проанализированы причины появления огранки у выращенного кристалла, влияние механической обработки (шлифовки и полировки) и высокотемпературного отжига на внутренние напряжения. Показано, что для получения надежного токоввода в сапфировую разрядную трубку, наполненную плазмообразующей средой на основе паров щелочного металла необходимо использовать сплав ниобия НбЦу и стеклокерамический припой на основе системы окислов CaO–Al2O3. Подробно исследованы структурные изменения в сплавах ниобия и в слое стеклокерамического припоя при различных температурах пайки, распределение концентрации ниобия в переходной зоне, выявлен оптимальный режим пайки стеклоцементом. Рассмотрен новый способ получения спая сапфира с металлом комбинацией методов предварительной металлизации и активной пайки. Реализация предложенного способа получения спая осуществляется посредством использования двух магнетронов с медной и титановой мишенями. Разработана математическая модель магнетронного напыления покрытий на вращающийся цилиндрический образец. Проанализирован механизм взаимодействия титана с сапфиром, рассмотрены результаты исследований процессов в глубине слоя металлизации и на границе с сапфиром при пайке медным припоем.

Сохранить в закладках

Исследование дефектов матричных фотоприемных устройств методами электронной микроскопии (2019)

Авторы: Арич Олеся Дмитриевна, Климанов Евгений Алексеевич, Гончаров Валерий Евгеньевич, Можаева Мария Олеговна, Малыгин Владислав Анатольевич

Методами растровой электронной микроскопии проведены исследования матриц фоточувствительных элементов и мультиплексоров, используемых для изготовления инфракрасных матричных фотоприемных устройств, после нанесения на них индиевых микроконтактов. Контакты формировались двумя различными способами: классическим и экспериментальным (с одним «взрывом»). Исследования позволили выявить различные типы дефектов и причины их возникновения. Проведено сравнение двух способов изготовления микроконтактов с целью определения оптимального для повышения процента выхода годных фотоприемных устройств.

Сохранить в закладках

Получение и диагностика импульсных плазменных потоков (2019)

Авторы: Тажен Айгерим Бегимханкызы, Райымханов Жанибек Райымханулы, Досболаев Мерлан Кылышулы, Рамазанов Тлеккабул Сабитович

Импульсные плазменные ускорители широко применяются для получения высоко-температурных импульсных плазменных потоков для практического и прикладного применения. Основными параметрами импульсных ускорителей плазмы являются характеристики внешней электрической и магнитной цепи, а также структурные и энергетические свойства плазменного потока. В данной работе для диагностики импульсной плазмы, полученной в ИПУ-30, были применены тройной Ленгмюровский зондовый метод, калориметрические измерения плотности энергии плазмы, пояс Роговского и высокоскоростная съемка с помощью видеокамеры Phantom VEO710S. Были определены локальные параметры плазмы, такие как температура и концентрация электронов, плотность энергии плазмы, ток плазменного шнура, а также ток разряда при изменении напряжения накопительных конденсаторов и давления воздуха. Результаты с тройного зонда и пояса Роговского представлены в виде осциллограмм. Получены изображения формирования плазмы в разрядном промежутке и измерена скорость импульсного потока плазмы.

Сохранить в закладках

Пространственная структура и динамика импульсного дугового разряда в вакууме (2019)

Авторы: Давыдов Сергей Геннадьевич, Долгов Александр Николаевич, Карпов Максим Александрович, Корнеев Андрей Владимирович, Никишин Дмитрий Викторович, Якубов Рустам Халимович

Изучался процесс коммутации короткого вакуумного промежутка с помощью вспомогательного разряда по поверхности диэлектрика путем высокоскоростной регистрации изображений плазмы разряда в оптическом диапазоне спектра. На основе анализа полученных экспериментальных данных высказано предположение о существенной роли излучения катодного пятна и катодного факела ультрафиолетового диапазона в процессе формирования токового канала в разряде.

Сохранить в закладках

Издательство

Издательство: АО "НПО "ОРИОН"
Регион: Россия, Москва
Почтовый адрес: 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
Юр. адрес: 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
ФИО: Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
E-mail адрес: orion@orion-ir.ru
Контактный телефон: +7 (499) 3749400
Сайт: http://www.orion-ir.ru

Все права на тексты и товарные знаки принадлежат их законным владельцам. Подробнее...

Сайт https://scinetwork.ru (далее – сайт) работает по принципу агрегатора – собирает и структурирует информацию из публичных источников в сети Интернет, то есть передает полнотекстовую информацию о товарных знаках в том виде, в котором она содержится в открытом доступе.

Сайт и администрация сайта не используют отображаемые на сайте товарные знаки в коммерческих и рекламных целях, не декларируют своего участия в процессе их государственной регистрации, не заявляют о своих исключительных правах на товарные знаки, а также не гарантируют точность, полноту и достоверность информации.

Все права на товарные знаки принадлежат их законным владельцам!

Сайт носит исключительно информационный характер, и предоставляемые им сведения являются открытыми публичными данными.

Администрация сайта не несет ответственность за какие бы то ни было убытки, возникающие в результате доступа и использования сайта.

Спасибо, понятно.