Статья: Влияние поверхностной рекомбинации на параметры фотодиодов из полупроводниковых структур HgCdTe (2018)

Читать онлайн

Проведены расчеты скорости поверхностной рекомбинации для слоев HgCdTe р-типа проводимости при различных концентрациях легирующих примесей и плотности концентрации ловушек Nt. Показано, что при указанных выше начальных параметрах скорость поверхностной рекомбинации Smax находится в диапазоне 10–104 см/с. Проведено моделирование токовой чувствительности для HgCdTe р-типа, используя зависимость квантовой эффективности в приближении больших времен жизни τn0 и больших диффузионных длин Ln неосновных носителей заряда с учетом влияния скорости поверхностной рекомбинации.

The surface recombination rate of HgCdTe p-type layers have been calculated for various doping impu-rity concentrations and surface-state densities. It is shown that, the maximum value of surface recom-bination rate Smax was in the range of 10–104 cm/s. Modeling of the current sensitivity HgCdTe photo-diode has been carried out using the dependence of quantum efficiency on the approximation of long lifetimes τn0 and large diffusion lengths Ln of minority carriers. The effect of surface recombination to HgCdTe FPA performance have been estimated.

Ключевые фразы: HgCdTe, инфракрасный (ИК) спектральный диапазон, гетероэпитаксиальные структуры, скорость поверхностной рекомбинации
Автор (ы): Яковлева Наталья Ивановна
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383.4. Фотоэлементы с внутренним фотоэффектом. Фоторезисторы
eLIBRARY ID
35653662
Для цитирования:
ЯКОВЛЕВА Н. И. ВЛИЯНИЕ ПОВЕРХНОСТНОЙ РЕКОМБИНАЦИИ НА ПАРАМЕТРЫ ФОТОДИОДОВ ИЗ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР HGCDTE // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №4
Текстовый фрагмент статьи